В Технопарке «Сколково» открылся Центр коллективного пользования «Микроанализ»

18 апреля в Технопарке «Сколково» состоялось открытие Центра коллективного пользования «Микроанализ». Участникам мероприятия продемонстрировали новые возможности использования электронной микроскопии для ускорения разработки, подготовки технологии производства и контроля качества продукта.

ЦКП «Микроанализ» Технопарка «Сколково»

1. Перечень исследований
2. Специальные условия для участников
3. Список оборудования (*)

(*)- более широкий парк приборов доступен в экстерриториальном режиме 

Центр коллективного пользования «Микроанализ» будет проводить исследования образцов с использованием систем световой, растровой электронной, ионной, просвечивающей электронной микроскопии, а также энерго-дисперсионного анализа, в том числе по следующим направлениям.

• Нанопрототипирование. Создание и реконструкция 3D-объектов. 
• Приготовление образцов. 
• Исследование морфологии в РЭМ. 
• Количественное определение элементного состава, получение карт распределения элементов на заданном участке образца (chemical mapping). 
• Исследование структуры и морфологии объектов в ПЭМ. 
• Анализ и обработка изображений, полученных с помощью ПЭМ. 
• Исследование образцов в оптическом диапазоне, 
• Cтатистическая обработка массивов частиц 
• Анализ поверхности и тонких пленок.
• Структурный анализ.

Специальные условия для участников:

1. Опыт клиентоориентированного сервиса -10 лет
2. Современный парк приборов
3. Квалифицированный персонал
4. Центр обучения
5. Минимальные сроки 
6. Удалённый доступ
7. Конкурентноспособная цена
8. Собственная сервисная служба 

Список оборудования 

1. Двулучевая аналитическая система FEI, Helios 650 Nanolab для растровой электронно-ионной микроскопии с эмиссионным катодом и сфокусированным ионным пучком. 2011 г.в. 
2. Оптический универсальный световой микроскоп Leica DM LB2 с системой оцифровки и специализированным метрологическим программным обеспечением для обработки изображений ImageScope-М (обновление 2012г.). 2003 г.в. 
3. Анализатор частиц Ambivalue EyeTech. 2011 г.в. 
4. Настольный растровый электронный микроскоп FEI Penom, 2009 г.в., 2 шт. 
5. Система пробоподготовки образцов для растровой микроскопии SPI. 2011 г.в. 
6. Система пробоподготовки образцов для просвечивающей микроскопии Fischione 1010. 2009 г.в. 

В 3-м квартале 2012г. предполагается установка следующего оборудования: 

1. Комплекс анализа поверхности производства PHI, 2012
2. Просвечивающий электронный микроскоп; FEI Tecnai G2 20 FEG c сиcтемой GIF, 2012
3. Доукомплектование лаборатории системами пробоподготовки для растровой и просвечивающей электронной микроскопии; 
4. Рентгеновский дифрактометр (ТВС) 
5. Рентгеновский микроскоп с возможностью 3D-томографии объекта, X-Radia; 
6. Атомно-силовой микроскоп (ТВС). 
7. Различное аналитическое опционное оборудование для электронной микроскопии.