8-11 февраля в Технопарке "Сколково" оператор ЦКП «Микроанализ» компания «Системы для Микроскопии и Анализа» («СМА») провела серию первых в истории технопарка удаленных сверхточных исследований.


Исследования были осуществлены в интересах и при авторском участии компании ОАО «Информационные спутниковые системы им. Академика М.Ф. Решетнева». Директор «СМА» Владимир Шкловер прокомментировал Sk.ru, что ЦКП «Микроанализ» продемонстрировал специалистам из «ИСС им. Решетнева» возможность авторского участия в исследовании микроструктуры электронных компонентов (резисторов),  используемых в создании приборов космической отрасли. Таким образом, некоторые функции по управлению электронным микроскопом могут реализовываться самим заказчиком исследования удаленно, даже с расстояния в несколько тысяч километров, как в данном случае.

С помощью уникального рентгеновского микроскопа Xradia VersaXRM-500 ЦКП «Микроанализ» провел неразрушающий контроль качества компонентов аппаратов, используемых  красноярской компанией. «ИСС им. Решетнева» с помощью этой технологии получает возможность удаленно контролировать компоненты для оборудования, используемого в спутниках, с целью увеличения срока службы аппаратов», - сказал Андрей Сатори, директор НИОКР сервисов технопарка.

один из спутников связи, сделанный на ОАО "ИСС им. Решетнева"

Он также отметил, что неразрушающий контроль позволяет определять состояние приборов внутри без их вскрытия, обнаруживая такие дефекты, как окисление контактов, недопайку и механические дефекты, а также идентифицировать производителя компонентов. Специалисты ОАО «ИСС» имени академика М.Ф. Решетнёва» остались удовлетворены результатами исследований. По результатам совместной работы технопарк подписал с участником ООО «Центр поисковых исследований ОАО «ИСС»  договор об оказании аналитических услуг.

 По словам Андрея Сатори,  технопарк "Сколково" рассматривает различные вопросы взаимодействия с этим клиентом, в том числе возможность создания инженерного проекта лаборатории микроанализа для «ИСС им. Решетнева».  Применение уникальных методик рентгеновской микроскопии позволит компании, производящей спутники, повысить надежность бортовой аппаратуры путем анализа отказов. В перспективные планы сотрудничества красноярского производителя спутников и Технопарка Сколково входят, наряду с контролем электронных компонентов контроль конструкционных материалов, включая композитные.

ОАО «Информационные спутниковые системы» имени академика М.Ф. Решетнёва» – одно из ведущих предприятий российской космической отрасли, владеет технологиями полного цикла создания космических комплексов от проектирования до управления КА на всех орбитах – от низких круговых до геостационарных. Компания в настоящее время рассматривает вопрос об открытии исследовательского центра в Сколково.

 

Справка о микроскопе Xradia VersaXRM-500:

  • Неразрушающий метод исследования объемной микроструктуры, компьютерная томография макро- и микрообъемов (с разрешением до < 0.7 мкм), без специальной пробоподготовки в естественной среде
  • Широкий спектр применений: материаловедение (объемные микродефекты, трещины, пористость, капиллярные структуры), биомедицинские исследования (структура тканей на клеточном уровне, в нативном состоянии), геология (виртуальный анализ кернов, пористые системы), микроэлектроника (неразрушающий контроль чипов и анализ дефектов)
  • Постановка динамических in situ экспериментов (нагрузочные, температурные, сатурационные и пр.) на образцах реального (до 300 мм) размера в контролируемой и естественной среде.