В технопарке осуществлено важное измерение титановых поверхностей

ЦКП «Микроанализ» технопарка Сколково выполнил ряд измерений, который позволил проанализировать новую поверхность титановых зубных имплантантов на субмикронном уровне.

Измерение было осуществлено Центром коллективного пользование "Микроанализ" (ЦКП "Микроанализ") для исследовательской программы резидента Фонда, компании «Альфа Биотех».

Проект был проведен высококвалифицированными специалистами на рентгеновском томографе. В результате измерений была создана реконструкция поверхности дентальных имплантантов, сделаны измерения неоднородности  поверхности.

По словам Романа Уланова, менеджера проекта по развитию НИОКР сервисов технопарка "Сколково", результаты проведенного исследования очень важны для понимания структуры титановых поверхностей. Их результаты пока не подлежат разглашению. "Речь идет о существенном открытии в структуре титановых поверхностей", - сказал Уланов.

Роман Уланов также рассказал, что сейчас ЦКП технопарка выполняет серию исследований, носящих долговременный характер, до 50 и более часов работ. 

"Мы видим устойчивую динамку роста количества заказов и расширение спектра оказываемых услуг, требующих в том числе применение такого сложного и дорогостоящего аналитического оборудования с высоким разрешением как, например, рентгеновский томограф,

Роман Уланов

Наиболее популярные исследования и работы в ЦКП технопарка

Приоритетными, наиболее востребованными исследованиями, которые сейчас проводятся в ЦКП "Микроанализ", являются исследования в области биомедицины и материаловедения. В микроэлектронике ЦКП "Микроанализ" в настоящее время планирует выполнение серии работ в интересах резидентов Фонда по контролю и отбраковке многослойных печатных плат. А по заказу ряда компаний-резидентов космокластера в ЦКП проводятся исследования по анализу и неразрушающему контролю элементов космических приборов. Кроме того, по словам Романа Уланова, проводятся аналитические измерения по материаловедению в интересах резидентов кластера энергоэффективности, в частности по анализу структур различных покрытий, а также микроанализу пористости структур, содержащихся в буровых кернах (пористость, включения органических отложений, состав) - для повышения коэффициента извлекаемости при добыче полезных ископаемых.

Справка о технических параметрах электронных микроскопов технопарка

Двухлучевая аналитическая система FEI Helios 650 Nanolab для растровой электронно-ионной микроскопии, оснащенная электронной колонной с катодом Шоттки высокой яркости, ионной Ga-пушкой (фокусированный ионный пучок) и EDS-аналитикой:

• РЭМ: Микроскопия поверхности с разрешением менее 0,7 нм
• EDX: Энергодисперсионный рентгеновский микроанализ, картирование поверхности по элементному составу
• ФИП: Ионная микроскопия (<4 нм). Локальное напыление (ФИП+ГИС) и травление материалов, резка поверхности с нанометровой  точностью. Объемная микроскопия. Нанопрототипирование. Реконструкция 3D-объектов.

 Рентгеновский микроскоп / микротомограф Xradia VersaXRM-500:

• Неразрушающий метод исследования объемной микроструктуры, компьютерная томография макро- и микрообъемов (с разрешением до < 0.7 мкм), без специальной пробоподготовки в естественной среде
• Широкий спектр применений: материаловедение (объемные микродефекты, трещины, пористость, капиллярные структуры), биомедицинские исследования (структура тканей на клеточном уровне, в нативном состоянии), геология (виртуальный анализ кернов, пористые системы), микроэлектроника (неразрушающий контроль чипов и анализ дефектов)
• Постановка динамических in situ экспериментов (нагрузочные, температурные, сатурационные и пр.) на образцах реального (до 300 мм) размера в контролируемой и естественной среде