23 апреля 2014 года на базе лаборатории применения аналитического оборудования компании Системы для Микроскопии и Анализа (СМА) в Сколково прошел семинар-практикум «Корреляционная микроскопия для решения ключевых задач науки о живом». Организаторами мероприятия стали компании-партнеры FEI и СМА.
В мероприятии приняли участие более 70 сотрудников ведущих научно-исследовательских институтов, частных компаний, студентов и аспирантов российских ВУЗов.
В рамках мероприятия представители FEI рассказали о последних достижениях компании для решения ключевых задач науки о живом: решения для структурной, клеточной биологии, гистологии. Участники семинара познакомились с основными преимуществами корреляционной световой и электронной микроскопии (CLEM) для криоисследований и исследований на живых культурах.
Участникам семинара был представлен практикум по корреляционному рабочему процессу, в т.ч. пробоподготовке, использованию готовых данных, получению изображений просвечивающей световой и электронной микроскопии.
Директор компании СМА В.Я. Шкловер в своей презентации поделился опытом применения мультимасштабной объемной микроскопии в исследованиях, выполненных лабораторией СМА для ведущих научно-исследовательских институтов и фармацевтических компаний.
В рамках практических секций, которые прошли на базе лаборатории применения аналитического оборудования СМА, участникам семинара были продемонстрированы концепции программного продукта Maps на новейшем микроскопе CorrSight, включая получение изображений световой микроскопии, а также на микроскопе Helios, включая получение изображений электронной микроскопии.
Участники мероприятия смогли не только ознакомиться с новыми достижениями в области корреляционной микроскопии, но и получили возможность пообщаться с коллегами в дружественной атмосфере, созданной организаторами на площадке Технопарка Сколково.
Мы благодарим участников семинара-практикума за интерес к нашему мероприятию и надеемся на дальнейшее плодотворное сотрудничество.